使用最终聚集排除烘焙质量的故障

 
 
 

尝试移除硬线和瑕疵并提高常规遮挡精确度时,建议在“渲染设置”(Render Settings)窗口中启用“最终聚集”(Final Gathering)中(请参见“渲染设置: mental Ray”选项卡中的间接照明选项卡)。启用“最终聚集”(Final Gathering)之后,“遮挡光线”(Occlusion Rays)“遮挡衰减”(Occlusion Falloff)属性(在照明/着色 > 批烘焙(mental Ray)(Lighting/shading > Batch Bake (mental Ray))选项对话框中)不会有助于烘焙。

若要提高烘焙质量,请使用“纹理烘焙集”节点中的“最终聚集质量”(Final Gather Quality)“最终聚集反射”(Final Gather Reflect)属性 纹理烘焙集(Texture Bake Set) 。此外,还可以在“渲染设置: mental Ray”选项卡中调整间接照明选项卡中的最终聚集属性)。特别的是,当“点密度”(Point Density)对烘焙无效果时,可能需要调整“精确度”(Accuracy)“点插值”(Point Interpolation)