烘焙到纹理和顶点

 
 
 

您可以在 mental ray for Maya 中烘焙到纹理和顶点。

注意选择一个曲面 (A) 并对其进行烘焙然后选择另一个曲面 (B) 并对其进行烘焙,与选择两个曲面(A 和 B)并一起进行烘焙不同。

这在全局照明(对象反弹和吸收场景中其他对象的光线)情况下更为明显。一旦对象被烘焙,即为其指定曲面着色器并且该对象将不再反射场景内的灯光。

烘焙到纹理

烘焙到纹理(相对于到顶点)时将创建名为光照贴图的图像文件。该光照贴图包含已烘焙对象的材质、纹理和照明,您可将其作为文件纹理应用到对象。

在以下位置可以找到该光照贴图图像文件(默认情况下):Maya\projects\mentalray\lightMap

注意烘焙一张贴图要使用一个内核/处理器。

例如,如果场景中有四个内核和五个对象,则一次生成四张贴图,处理器/核心空闲时生成第五张贴图。

还可以使用网络渲染创建光照贴图。但是,仅当计算机上光照贴图的数量超过处理器/核心的数量时,远程计算机才开始帮助进行烘焙。

当使用 mental ray for Maya Satellite 渲染烘焙到使用“照明/着色 > 批烘焙(mental ray)”(Lighting/Shading > Batch Bake (mental ray))的纹理时,请选择“单个对象”(Single object)作为“烘焙优化”(Bake optimization)方法。包括烘焙最终聚集和光子(全局照明)在内的烘焙仅支持使用“单个对象”(Single object)选项时的 Satellite。

烘焙到顶点

当您烘焙到顶点(相对于到纹理)时,将创建数据并将其自动存储在多边形网格的顶点颜色中。

可以将采样存储为逐顶点颜色,或用于置换顶点的位置。

可以将该数据导出为纹理贴图。

注意选择“烘焙到 顶点”(Bake to Vertices)选项时使用 mental ray for Maya Satellite 渲染(不支持“照明/着色 > 批烘焙(mental ray)”(Lighting/Shading > Batch Bake (mental ray)))。

烘焙遮挡

烘焙遮挡(使用“纹理烘焙集”(Texture Bake Set)顶点烘焙集中的遮挡“颜色模式”(Color Mode))由纹理烘焙集顶点烘焙集中的相应属性控制。

烘焙到纹理时,遮挡的计算也会根据是否启用“最终聚集”(Final Gathering)采用不同方式。当最终聚集处于禁用状态时,为纹理中的每个像素计算遮挡。如果最终聚集处于启用状态,将为少数选定像素预计算遮挡,然后对其插值。

比较而言,第一种方法(最终聚集处于禁用状态)较慢,但可以捕捉场景中的小细节。通常,插值方法(最终聚集处于启用状态)更快,生成的图像更平滑。这种方法在低分辨率多边形网格上烘焙纹理时尤其有用。

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